Page 26 - 网络电信2020年9月刊上

光模块专题
图2 磁珠硫化腐蚀机理图
（Scanning Electron Microscope, SEM）成像图和腐蚀物能
量散射型X射线（Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy,
EDX）成像图（黄绿色为硫化物）。贴片磁珠的外部由铁氧体烧
结而成，内部使用银箔作为导体线圈，含硫物可以通过磁珠的
铁氧体烧结后不致密的小缝隙渗入内部，“蚕食”内部银箔电
极，导致磁珠的电流电阻（Directctive Current Resistance,
DCR）变大甚至开路。
银硫化腐蚀的化学原理为
2、威布尔寿命分布模型
威布尔分布是瑞典数学家Weibull提出的数学模型，可用
于针对一个“最薄弱环节”组件导致整个单元或系统出现故障
的情况进行建模。威布尔分布模型利用概率值可推断其分布参
数，该模型被应用于各类寿命试验的数据处理中 [3-5] 。3参数威
布尔分布故障概率密度函数为
式中：ｍ为形状参数，表征分布密度函数曲线形状；η为
尺度参数，控制着横坐标尺度的大小，表征特征寿命；γ为位
置参数，表征最小寿命参数；ｔ为试验时间。
当γ＝0时，式（1）可转化为两参数威布尔分布概率密度
函数：
威布尔累积分布故障函数是指时间从0到ｔ出现失效的概
率，它是对威布尔分布概率密度函数在时间段[0，ｔ]做积分得
到的，积分式为
对式（3）进行运算可得：
令 ，X=Int, a=m和b＝-mＩnη，则式
（4）可转化为
y＝ａx＋b。
一般试验中我们是采用借助概率纸工具来分析失效规律，
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确定其相应分布参数的方法。我们从可靠性试验中得到的失效
信息，一个是失效产品数，可以通过其计算出F（t）；另一个
是相应的失效时间。
我们的思想是通过数学变换将上述复杂的关系转换成线性
函数，将失效分析大大简化。图3所示为威布尔坐标纸示意图，
将式（5）按照概率纸工具在双对数坐标系下近似简化为如图所
示的直线。
图3 威布尔坐标纸示意图
(1)
接下来，我们将利用加速寿命试验来确定产品的失效分布
(2) 规律，从而进一步建立寿命预估模型用以评估通信电子产品在
高硫环境下的工作寿命。
3、加速硫化腐蚀试验
加速试验是指在产品失效机理不变的前提下，通过加大应
力的方法，在较短的实验时间内获得比正常应力下更多的产品
(3) 信息，利用高应力水平下的寿命特征去外推正常应力水平下的
寿命特征 [6-8] 。《GB2689．2-1981寿命试验和加速寿命试验的图
估计法（用于威布尔分布）》规定了用于恒定应力寿命试验和
(4) 加速寿命试验的图估计法程序，其适用于电子元器件产品的寿
命服从威布尔分布、形状参数m＞0、特征寿命η＞0和位置参数
[9]
γ＝0的情况 。失效时间的处理按照《GB2689．1-1981恒定应
力寿命试验和加速寿命试验方法总则》第6条确定，将失效时间
(5) 按从小到大顺序排列，并按照表1的格式进行处理。