Page 21 - 网络电信2018年11月刊下

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衰减系数是光纤研发的长期目标。对于光纤研发和制造企业，
如果我们可以在理论上，对衰减组成的各个部分进行定性和定
量的分析，就可以有效的帮助我们找到降低衰减的最优途径，
在实际工作中指导我们的工作方向。
下表给出了超低衰减大有效面积G.654.E光纤和标准G.652.
D光纤在1550nm处各损耗贡献因素的具体对比数值。目前长飞
公司正在研发第二代超低衰减光纤技术，并已经取得关键性突
破，其有效面积将更大，典型衰减值也将更低。
标准G.652D和超低衰减光纤的衰减谱分解
2、宏弯损耗
另一个影响大有效面积光纤在陆地使用的因素是陆地缆的
安装和应用环境比海缆更复杂，经常需要经过一些转角或需要
在分线盒内留有余长盘纤，因此我们必须保证陆地干线光纤比
海缆光纤有更好的抗宏观弯曲性能。
影响宏弯的主要因素是光纤的剖面设计。辅助下陷内包层
结构是弯曲不敏感G.657光纤所使用的主要设计方案，而在我
们的超低衰减大有效面积光纤设计中，我们使用类似的结构，
将下陷内包层的体积优化至一个合理的值来获得更好的抗弯
曲性能。如下图所示，我们的超低衰减大有效面积光纤较标准
G.652.D单模光纤有着更优异的抗弯曲性能，完全满足并优于
G.657.A1标准，从而满足陆地干线实际部署中各种苛刻复杂苛
刻环境的要求。
宏弯损耗对比
3、微弯损耗
目前对大有效面积光纤在陆地使用的最大担心就是微弯性
能。微弯是影响成缆设计和成缆过程的重要因素，优异的微弯
性能可以减小成缆设计和成缆过程的难度，并且可以改进光缆
在不同应用条件下，尤其是极端环境中的性能稳定性。但目前
主流的增大光纤有效面积的方法是增加芯层直径或降低芯层相
对折射率，这两种设计都会对光纤的微弯带来负面影响。对于
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超低衰减大有效面积光纤同普通G652光纤的微弯损耗对比
长飞公司的超低衰减大有效面积光纤，我们通过特殊优化设计
的下陷内包层结构，并结合特殊的光纤涂覆工艺，有效的降低
了超低衰减大有效面积光纤的微弯损耗。上图给出了我们的有
效面积为110μm2的超低衰减光纤和标准G.652.D 单模光纤的微
弯性能对比，可见我们的光纤具有优异的微弯性能，在全波段
范围内的典型微弯损耗低于0.5dB/km。
4、光缆TCT性能
如上文讨论，由于陆地干线光缆的使用环境较海洋光缆使
用环境更为复杂苛刻，陆地缆需要在经历更剧烈的温度变化的
条件下仍然保持链路损耗的稳定性。为了进一步验证我们光纤
在成缆后的性能，我们进行相关成缆实验。在相关标准汇总，
通常使用光缆温度循环测试来检测衰减随温度的变化。在实验
中，我们将12芯超低衰减大有效面积（110μm2）光纤置于一个
GYTA 的光缆管内进行TCT实验，下图为我们的光缆结构示意图
。
光缆结构示意图
由下图我们可以发现，当温度在-40摄氏度到+70摄氏度的
范围内变化时，我们的超低衰减大有效面积（110μm2）光缆
的衰减变化小于0.01dB/km，远远优于IEC和ITU-T标准规定的
0.05dB/km。
5、成缆过程中的衰减变化
下图为长飞超低衰减大有效面积光纤在成缆前后的衰减
变化。该数据统计基于长飞公司在2016年提供给中国移动的
21000Fkm公里超低衰减110um2大有效面积光纤的成缆结果。其
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网络电信 二零一八年十一月