Page 26 - 网络电信2020年9月刊下
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图2 光纤损耗谱                                             图3  GeO 2 掺杂纤芯的热膨胀系数以及氟掺杂包层的热膨胀系数和掺
                                                                  杂量的函数关系。


















            密度起伏产生的散射损耗,  因而G.652.D光纤在1550nm波长损耗
            为0.18-0.20dB/Km;  而G654.E纯硅芯光纤在1550nm波长损耗为           响也与氟类似。相对于锗掺杂,氯掺杂同样能够有效降低光纤
            0.16-0.17dB/Km。                                      各层结构间的热膨胀系数失配的问题。
                在G.652.D光纤中,纤芯中的锗掺杂是光纤衰减增加的主要
            原因之一,在光纤进行锗掺杂的情况下,材料固有的损耗满足                              二、G.654.E光纤的设计探讨
            以下公式:                                                    为了解决上述纯硅芯与掺氟包层界面之间高温粘度失配以
                                                                 及纯硅芯与掺氟包层的热胀系数的不同带来的问题,  本文第一
                                                                 个设计方案是采用纤芯掺氯,包层掺氟来实现纤芯和包层的高
                上述公式中,λ为工作波长,计算时单位以微米计;Δ为                        温粘度匹配,从而消除芯/包界面因粘度失配产生的应力导致界
            锗掺杂带来的折射率变化,单位为%。其中α IR 为红外吸收损                       面应变产生的附加损耗。第二个设计方案是采用纤芯掺氯的梯
            耗,与掺杂浓度无关,α UV 为紫外吸收损耗,在低浓度掺杂的情                      度型折射率分布,同样也能使纤芯/包层界面因折射率相同而
            况下,对损耗的影响也极小,主要对衰减产生影响的是与波长                          避免了粘度失配和热膨胀失配造成的附加损耗。现分别说明如
            四次方成反比的瑞利散射α RS 部分。                                  下:
                根据上式,当不进行锗掺杂时,工作波段为1550nm时,光                         1、纤芯掺氯、包层掺氟的粘度匹配光纤
            纤的理论损耗(排除应力影响)约为0.152dB/km。而当芯层进                         (1)纤芯掺氯、包层掺氟的粘度匹配光纤的设计
            行掺杂后,每使得芯层的Δ变化0.1%,则造成瑞利散射加剧而                            针对粘度匹配问题,假设光纤的纤芯与二氧化硅的相对折
            使衰减增加的值为:0.0135dB/km。常规的G.652.D光纤纤芯掺                 射率差为Δ 1 ,纤芯粘度为η 1 ,匹配包层与二氧化硅的相对折射
            锗,Δ为0.32%时,光纤损耗为0.19dB/km。                           率差为Δ 2 ,匹配包层粘度为η 2 ,则可根据下式进行粘度匹配的
                为了得到在1550nm波长上光纤的最低损耗,在传统的                       计算:
            G.654.E光纤中均采用纯二氧化硅纤芯以及掺氟包层以得到波                           设定:
            导结构,从而避免因纤芯掺锗引起的分子组份起伏产生的瑞
            利散射损耗。但是,实际市场上G654.E商品光纤没有达到理
            论上的低衰减水平,其原因是因为波导缺陷损耗(waveguide
            imperfection  loss)所产生的附加损耗。波导缺陷损耗是由于                    则粘度匹配时,必需满足下列条件,
            芯/包界面的几何波动引起的。界面的不规整性产生光的散射导                             K 1 Δ 1 =K 2 Δ 2
            致衰减的增大。界面的几何波动是在工艺过程中的残余应力所                              最终可得到以下公式:
            引起的,此残余应力源自纯硅芯纤芯和掺氟包层之间的高温粘
            度失配以及拉丝张力。另外,由于纯硅芯与掺氟包层的热胀系
            数的不同在纤芯包层界面的应力导致衰减的增大以及在光棒脱
            水烧结工艺中会引起开裂。                                             式中,Δ=Δ 1 -Δ 2  为芯/包折射率差。
                对于Ge掺杂的二氧化硅,热膨胀系数(CTE)  (单位,1/℃)                     当进行氯、氟等材料掺杂时,在1650℃时,根据不同的掺
            和Δ%与GeO 2 浓度[GeO 2 ](单位,wt%)相关,如下式所示:                杂浓度(wt%), 石英玻璃的粘度可参见以下公式:
                CTE=(5 .05+0 .42075[GeO 2 ])×10 -7
                Δ%=0 .055[GeO 2 ] ,                                  式中, η 0 (泊)为纯二氧化硅粘度,
                图3为GeO 2 掺杂纤芯的热膨胀系数以及氟掺杂包层的热膨胀
            系数和掺杂量的函数关系。
                由于氯的掺杂结构与氟相近,所以对石英热膨胀系数的影                            式中,T为凯尔文度。

                                                        网络电信 二零二O年九月                                           45
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