Page 41 - 网络电信8月刊下
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解 决 方 案
件编程找到相应的器件; 同时，一条总线上挂有多个器件，可 从属模块到主用模块。读写位的判断有助于之后的测试。
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以通过设置器件硬件引脚的电平值来区分地址。这种方法虽然 I C总线的帧结构如图4所示。
可以使得一条总线下挂多个器件，但是通常大部分器件封装只
会预留3个引脚，因而一条总线最多只能下挂8个器件。主机的 图4 I C总线的帧结构
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驱动能力直接影响到信号质量，通常下挂器件越多，将会导致
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I C总线信号质量越差，最好的情况就是下挂1个器件。
光模块的寻址方式与其他器件模块略有不同。上述介绍
到，100G光模块器件主要应用在大型的园区交换机、数据中心
交换机等数据量很大的环境中。在大型交换机的一块业务板中
会有多个光模块业务端口，有些交换机的单个业务板就可以达 四、QSFP28光模块测试方法
到48个万兆光模块业务口。这样如果在一条总线下寻址会需要 光模块主要应用于园区交换机网、数据中心交换机等大型
大量的硬件地址，同时也会由于驱动能力不足而产生信号质量 交换网络中。由于光模块是一种从属设备，目前大多数通信设
不好的问题。对于交换机产品，众多的光模块业务口其实给光 备公司都是将光模块作为通信设备的一种物料对外进行采购，
模块的访问提供了另外一种方式，可以直接通过光模块业务 所以对于交换机和路由器等大型通信设备来说，光模块的适配
口在交换机中的物理位置对其访问，同时配合逻辑开关模块 和调试是极其重要的一个环节。一般来说，光模块的信号测试
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对相应光模块I C使能通道进行选通。在光模块规范 ［6］ 中也对 分为低速信号测试和高速信号测试。本文将重点介绍光模块的
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QSFP28封装光模块的I C地址进行了规定。 低速信号测试中的I C 的逻辑电平指标、时序指标及其研发调
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2.光模块I C总线的传输方式 试过程中的方法，以及光模块的高速信号测试中的光眼图和电
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I C总线协议一般都会由主用模块产生一个开始条件。当 信号眼图测试。
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SCL 为高电平时，SDA 由高电平变为低电平。相应的结束条件 1.I C信号测试
是: 当SCL 为高电平时，SDA 由低电平向高电平切换，同时数 在研发调试中，I C接口测试 ［7］ 是其中的关键性工作。I C
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据传输必须带有响应，相关的响应时钟脉冲由主机产生，在响 总线给软件驱动人员提供了方便的接口，同时光模块内部定义
应时钟脉冲期间发送器释放SDA 线( 高电平) ，此时接收器必 了一些存储空间，平台软件可以调用I C总线实现一系列的功
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须将SDA线拉低，使其在这个响应脉冲的高电平期间保持稳定的 能，方便用户对光模块进行管理和控制。例如，光模块内部控
低电平。 制芯片通过软件处理，可以实现用户对光模块告警以及光模块
从当前数据传输的结束到下一数据传输的开始，被称为总 当前使用状态等重要信息进行监控。所以在调试验证过程中，
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线的空余时间。一般来说，因为一条总线下挂多个器件或者1个 必须严格遵循光模块I C的电气指标要求、时序要求等。
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器件在一段时间内会被多次访问，所以I C总线还存在总线的空 在QSFP28光模块标准中，不仅定义了100G光模块的封装
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余时间。I C总线采用电平采样，在SCL为高电平期间，SDA必须 结构，还定义了其电气指标和时序指标。其目的就是让各厂商
保持平稳; 当SCL为低电平时，SDA可以进行电平切换。 所生产的光模块能够更好地兼容当前市面上的交换机等通信设
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在I C总线中还定义了一位读写位，读写位指示了数据传输 备。低速信号电气参数、I C时序要求及I C时序图分别如表1、
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的方向，当读写位为高电平时表示读数据，由主用模块产生向 表2和图5所示。表1中，V ol 所对应的I ol (max)=3.0mA。SCL和SDA
从属模块传输; 当读写位低电平时表示写数据，数据流向是由 的V IH 和V IH 通过上拉电阻至Vcc。
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图5 I C时序图
60 网络电信 二零一七年八月
