Page 31 - 网络电信2022年11/12月刊

解 决 方 案

信息配置主要包含产品信息设置，技术指标设置，被测产 表1 CPK评定表
品选择，设置完成后系统会自动选择光开关通道，扫描光谱仪
信息; 点击存光，系统会进行光谱仪数据清零操作; 连接好待
测产品点击开始测试，系统获取光谱曲线并进行数据处理，在
界面上显示测试结果，并与技术指标进行比较，若单项数据合
格则指示灯亮绿色，不合格则指示灯亮红色，若所有技术指标
均合格则该产品合格，结果显示通过，点击保存光谱后可生成
产品合格率报表。
图6 系统界面图

在进行制程能力分析时，必须明确对过程输出特性的要
求，包括目标值和规范限、容限等，通常规定规范上限为USL
规范下限为LSL.利用LabSOL工具包直接调用封装好的LabSQL
VIs，读取数据库中多个产品的特定参数数据，选择参数和产品
个数。在程序框图中根据CPK的计算公式建立模型，输入USL、
LSL后，系统自动求得制程能力的一系列相关指标并以直方图的
形式显示。CPK数值与Cpk等级对比后，可判断出整个过程工艺
水平等级，进而改进和提升过程能力。
CPK的计算公式具体如下:

(1)

将处理后的数据分类保存至数据库，创建Microsoft数
(2)
据库，程序框图界面的工具面板中CREAT DATA LINK可与其
建立连接。使用具有实时性、便利性的LabSQL工具包，利用
(3)
MicrosoftADO 并编写SQL语言控制实现数据的存储，程序图如
图7所示。 式中，T为规格公差，U 为规格中心值，Ca为制程准确度，

图7 数据库程序图 Cp为制程精度。
实验选择参数为损耗，固定选择100组数据，设置单边规格
上限为1.6，进行CPK计算，CPK分析界面如图8所示。
图8 CPK分析结果

4.生产能力评估
为了充分挖掘测试数据信息，本系统对无源光器件进行测
试和性能评价外，还增加测试生产能力评估模块，即CPK分析。
系统的检测过程能力强才可以确保测试数据可靠性强，0Lf 值
越大则表示系统测试能力越强。前期数据库中同类产品测试数
据的累计可用于后期到生产能力评估中。根据国标GB/T4091-
2001常规控制图中明确规定，在进行0Lf 分析之前，首先要保 在本系统中直接对生产过程能力评级，根据CPK评定表可知
证测量系统是稳定受控的。对于过程稳定受控的连续型数据， 当CPK≥2.0时，等级为A++，可以得出结论:过程能力为特优。
利用控制图来处理符合正态分布的数据，然后采用公式计算得
到它的0Lf 值。如表1所示，0Lf 根据其具体值划分以下等级来 三、无源光器件检测实验及结果分析
分析评定工艺水平，按等级高低作出相应的判断和处理。 1.实验试件

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