Page 33 - 网络电信2021年7月刊上
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更好地保护光单元。 （3）样品18312052，选取6根纤的衰减变化统计结果如表5。
(4) 成缆节距 （4）光单元制造前后光纤衰减的变化直方图
成缆节距控制应精确稳定，以获得稳定的光纤余长和较好 根据以上抽样统计得出图2所示的衰减变化直方排列图，可
的绞线覆盖率。一般成缆后光纤综合余长控制在6~8‰，绞线覆 以看出采用合适严格的工艺控制生产的OPGW光单元中光纤衰减
盖率在96~98%。 变化量在±0.002dB，结果是令人满意的，工艺是稳定的。
2. 光纤余长和余长均匀性
三、技术总结 (1) 样品18312044余长测试统计如表6。
1. 光单元制造前后光纤衰减的变化 (2) 样品18312047余长测试统计如表7。
（1）样品18312039，选取6根纤的衰减变化统计结果如表3。 (3) 样品18312051余长测试统计如表8。
（2）样品18312042，选取6根纤的衰减变化统计结果如表4。 (4) 余长分布直方图
图 3 余长分布直方图 图 4 应力应变曲线图
表 6 样品 18312044 余长测试统计表
表 7 样品 18312047 余长测试统计表
表 8 样品 18312051 余长测试统计如表
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