Page 34 - 网络电信2020年9月刊下
P. 34

图5 干涉滤光片和吸收滤光片的透射率曲线                                图6 光释光荧光强度随时间的变化曲线























            号为BG3,2mm厚)一方面衰减反射激发光强度,另一方面避免                       加,激发态原子退激的速度越来越快,所以随着时间的推移光
            被干涉滤光片反射回来的激发光在两个干涉滤光片之间来回反                          释光荧光的强度(正比于激发态原子的数量)达到最大值,然
            射,滤光片组的使用同时解决了干涉滤光片不能紧邻叠加使用                          后开始下降。该过程中荧光强度可由式(1)描述,其中I(t)是
            和大厚度吸收滤光片荧光透过率低的问题,所用干涉滤光片和                          时刻t的荧光强度,参数A、p、λ与激发光的强度等参数有关:
            吸收滤光片的透过率曲线如图5所示(吸收滤光片仅考虑0°入
            射的内部透射率,未考虑表面的反射);光电倍增管的光阴极                                                                              (1)
            有效直径为8mm,材料为超级双碱,峰值灵敏波长为400nm,                           开始照射样品后500ms内的光释光荧光强度,以及采用式
                                  -1
            实测本底计数率不超过10s ;信号处理电路用于光电倍增管                         (1)进行拟合的拟合结果如图7所示,可见试验数据与理论预
            输出的单光子脉冲的放大、甄别和整形,输出固定脉冲宽度                           测符合得很好。
            (10ns)的TTL信号;计数器按照给定逻辑和触发条件进行脉冲                       图7 激发光开始照射时荧光强度随时间的变化曲线
            计数;脉冲发生器输出三个具有相对延时的脉冲信号,用于实
            现激光器、快门和计数器的同步。


                三、辐射探测系统特性
                1、荧光强度随时间的变化曲线
                将激光器的输出频率设置为4kHz(每个周期250μs),激
            光器早于快门和计数器15s启动,快门的开启时间设置为4s,计
            数器与激光器通过脉冲发生器实现同步,且计数器开始计数的
            时刻略早于激光脉冲几个微秒以确保激光脉冲都位于每个系统
            周期(250μs)的前几个微秒内,计数器开始计数后每隔50μs
            给出该时间间隔内的计数值。测量结束后从计数器开始计数的
            时刻开始,计算每1ms时间间隔内的荧光计数。由于激光脉冲存
            在时本底荧光非常强,所以采用了脉冲光释光技术来显著减小
            本底荧光的贡献,即忽略计数器在每个250μs周期内的第一个
                                                                     当停止照射样品后,激发态原子的数量不再增加,随着激
            计数,也就是激光脉冲所在的那个50μs内的计数(注:本文后
                                                                 发态原子的退激,光释光强度逐渐减小为0。停止照射样品后1s
            续所有荧光计数的计算都将忽略计数器在每个250μs系统周期                        内的光释光荧光强度随时间的变化曲线如图8所示,可采用式
                                                          60
            内的第一个计数,后文不再赘述)。将光释光探测器放在 Co辐
                                                                 (2)进行拟合:
            射场中辐照约1Gy累积剂量后进行测量,测得光释光荧光强度随                                    -λ1·t    -λ2·t
                                                                     I(t)=A 1 ·e  +A 2 ·e                           (2)
            时间的变化曲线如图6所示。
                                                                     式中:λ1的倒数就是激发态原子(光释光荧光)的寿
                激发光开始照射样品后,被陷阱能级俘获的电子不断被激
                                                                 命;λ2来源于被浅能级俘获的电子热激发后形成的荧光(即磷
            发至导带,然后与复合中心复合形成激发态,激发态原子的数
                                                                 光)。采用式(2)进行拟合得到的荧光寿命约为36.0ms,与文
            量从0开始逐渐增加。激发态原子在积累的同时通过发射光释
                                                                 献[13]所给出的测量值35.2ms一致。
            光荧光退激,单位时间内退激的激发态原子数量与激发态原子
                                                                     2、激发光功率影响
            的总数量成正比。由于被陷阱能级俘获的电子不断被释放,激
                                                                     将激光器的输出频率设置为4kHz,激光器早于快门和计数
            发态原子的产生速度不断下降,同时随着激发态原子数量的增
                                                                 器15s启动,快门的开启时间设置为100s,计数器每隔50μs给
                                                        网络电信 二零二O年九月                                           53
   29   30   31   32   33   34   35   36   37   38   39