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光 通 信
前为高端产品的主流测试方法,如MPO/MTP产品。 产生损耗越低,那么回波损耗越大,传输性能越稳定。
2、光纤端面空气间隙
四、影响MPO/MTP型光纤连接器回波损耗的 两MPO/MTP型光纤连接器是通过适配器进行锁紧,是属于物
因素 理连接。但又不能实现光纤间的真正物理接触,两连接头的接
通常两个光纤连接器通过适配器连接,光纤连接器连接的 触端面会存在间隙。端面空气间隙越小引起的损耗将越小,对
地方会存在由于对接不良引起的回波损耗异常,比如连接器对 应的回损值越大。在实际使用过程中,对接不充分,适配器出
接时两光纤存在间距、角度、径向偏移原因,导致入射光功率 现不洁或损伤,都会影响回损值。在使用过程中需及时清洁,
损失,如图3所示。 适配器一般使用次数超过500次需及时更换。
图3 光纤连接器的连接点 3、对中定位偏差
MPO/MTP型光纤连接器的两连接头接触时,其有效接触面为
其光纤端面区域,接触形式是通过弹簧给连接器施加适当的轴
向端接力,从而实现紧密的物理接触。
由于MPO/MTP插芯是方形,且多根光纤接触,要实现每个光
纤孔通道有效接触,其各接触面必须受力均匀,当插芯面对接
受力不均或Pin针变形,就会出现倾斜,导致角度、径向偏移。
测试出来的各通道回损值会出现有规律性增减,即一侧回损值
不合格一侧回损值合格。出现这种情况,在实际MPO/MTP装配作
而MPO/MTP型光纤连接器是一种多芯多通道插拔式连接器。 业过程中要注意。例如Senko散件在组装时要求弹簧缺口面、底
它的特征是由一个标称直径为6.4mmx2.5mm矩形插针体,利用插 座非缺口面、插芯窗口面为同一平面,可避免插芯出现受力不
针体端面上左右两个0.7mm直径的导针孔与导针进行定位对中。 均。如图5所示。
对接时,由一个装在插针体尾部的弹簧,对插针体施加一轴向 图5 MPO/MTP装配
的压力,直到连接头的外框套跟适配器锁紧。插针体上侧面有
一个阳(凸)键,用作连接时限制连接头之间的相对位置,以确
定光纤正确的对接顺序。如图4所示。
图4 MPO/MTP型光纤连接器结构
4、端面几何参数
要实现各连接器的互换匹配,光纤连接器在生产过程中
研磨与抛光对测试性能的影响也非常关键。除了要有良好的端
面洁净度外,还需管控MPO/MTP连接器的端面几何参数(X轴曲
率,Y轴曲率,X轴角度,Y轴角度,Croddip,最大纤差,相邻
纤差)。其中Croddip对回波损耗影响最大,因为光纤凹陷使连
接器在对接时会存在空气间隙,若这个指标控制不好,整个回
波损耗值会偏低,一般行业内为了获得更稳定的回损,一般把
Croddip控制在100μm以下。
由于MPO/MTP型光纤连接器应用于多芯并排光纤的活动连 端面缺陷同样对回损测试有较大影响,端面按照IEC61300-
接,比常规单芯连接器要求更高,按照GR-1435-CORE标准要 3-35标准都能满足回损性能要求,但在测试过程中需适当清洁
求,多芯光纤连接器的各通道需保证回波性能稳定。 插芯平面,去除插芯端面的残留脏污,避免因插芯上有其他可
影响MPO/MTP型光纤活动连接器的回波损耗主要有以下几大 擦拭脏污,导致对中偏差及间隙而影响回损。
因素。 5、测试设备及标准线
1、光纤特性 测试MPO/MTP跳线产品需采用OTDR法的插回损测试仪,才能
光束在光纤中前向传播时存在光纤损耗,光纤损耗可归为 适用多通道复杂的回损测量要求。在选取设备时需从影响测试
两类:吸收损耗和散射损耗。吸收损耗是指光波通过光纤材料 设备的准确度方面进行考量,其中光模块偏敏感度、光源稳定
时,一部分光能被消耗转换成其他形式的能量,散射是光在光 度、光功率测量的线性误差为影响设备精度的主要因素。
纤中的遇到不连续点会产生散射,产生不连续点的原因可能是 选取的标准线的材料、质量、性能指标、端面、3D指标的
制作光纤材料的杂质、微小的不均匀性等。因此光纤质量越好 要求更严格,标准线长度一般为3.5米比较合适,其使用的插
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