Page 30 - 网络电信2016第10期

光通信

另外在G.657光纤进行熔接时，还会出现另一种现象，如 在实际施工布线过程中，当G.657光纤与普通G.652光
图3所示，在处置光纤长度方向的接续点出现了“晕环”。这是 纤进行熔接后，用OTDR进行熔接损耗测试时往往会发现单项
因为熔接机在熔接时通过电弧放电，会瞬间产生大量的热量， 测试的OTDR测试曲线出现明显的“大正大负”的现象。当熔
而氟掺杂下陷中的氟在瞬间高温条件下容易发生扩散，从而引 接点两端的光纤模场直径差异达到0.2μm以上时，该“大正
起熔接点处折射率的变化。这种折射率的变化通过熔接机成像 大负”的台阶表现越明显，特别是对于模场直径本身就相差
系统，即为我们从视觉上所观察到的“晕环”。经过大量的实 0.2-0.4μm的G.657A和G.652光纤而言，这种现象就尤为明
验验证，“晕环”的产生也不会影响G.657光纤的熔接损耗，属 显。因此对于在实际施工中，当G.657和G.652光纤进行熔接
于正常现象，没有必要仅仅因为出现“晕环”而进行重复熔接 后OTDR测试曲线显示出明显的台阶时，这种现象与G.652光
操作。通过大量的熔接实验和OTDR测试分析，“黑线”和“晕 纤自身互熔的测试曲线差别很大往往会给熔接操作人员带来
环”的存在不会对光纤熔接后的传输性能和机械性能产生影 困惑甚至是误导，操作人员会误以为是熔接损耗大而重新熔
响。 接，增加了返工次数。为了准确地测量熔接点的损耗大小并
判断此次熔接是否合格，必须进行双向测试并取平均值作为
图3 G.657光纤熔接时晕环现象 熔接损耗的真实值。

2.G.657和G.652光纤的熔接单端测试损耗大的澄清 目前G.657光纤的模场直径的中值一般在8.6-8.8μm之
一般来说，光纤的熔接损耗的大小与下面几个因素有关： 间，G.652光纤的模场直径的中值一般在9.0-9.2μm之间，再
①两端光纤的纤芯对准；②两端光纤的断面是否平行，纤轴是 考虑到至少±0.4μm的公差，有可能出现G.657光纤和G.652
否对齐；③模场直径的匹配。 光纤的模场直径的差值达到1μm以上，所以在G.657和G.652
随着熔接机厂商的制造工艺的不断发展，光纤熔接损耗受 光纤熔接时，OTDR会在熔接点显示出明显的“大正大负”台
前两项影响已降至很低的程度，然而由于两端光纤模场直径的 阶，而在此单项测试所显示的台阶“高度”是不能反映熔接
失配，会造成熔接损耗在一定程度上的增大。同时，由于OTDR 点的真实损耗的。一般情况下为了准确评估G.657光纤的熔接
特殊的测试原理，使得其测试结果对模场直径十分敏感，OTDR 性能，需要将G.657光纤按以下原则选纤，即按正态分布的
探测到的某点的背向散射功率PZ是反比于此点的模场直径的， 模场直径的标称值作为中值来挑选测试光纤，G.652光纤的选
即MFD越大，反射光功率越小；而MFD越小，反射光功率越大。 纤也需要按同样的原则进行。按照此原则进行G.657光纤和
如下式所示： G.652光纤的熔接测试，得到的结果可以真实地评估G.657光
背向散射功率（Backscatter level） 纤的熔接性能。

(1) 图5 G.657光纤熔接性能评估结果

如图4所示，假设两段MFD具有一定差异的光纤通过熔接机 从图5可以看出，由于模场直径的失配，单向测试时OTDR
热熔接，则在接点前后PZ的区别是明显的，如果光从小MFD的光 的曲线显示的台阶“高度”明显，而双向测试后的平均值则准
纤进入大MFD的光纤，则OTDR曲线会出现一个明显的负台阶（衰 确反映了熔接损耗的大小。ITU-T L.12-200803-E中建议单个
减），而光从大MFD光纤进入小MFD光纤时OTDR曲线上会出现一 熔接点损耗平均值不大于0.1dB，97%以上的测试结果应不大于
个明显的正台阶（视为增益）。单项测试时出现的明显的正负 0.2dB。YD/T 1258.2《光缆线路性能测量方法》第二部分，光
台阶都无法正确地反映出此熔接点的实际熔接损耗。 纤接头损耗4.5.6中规定，计算同一接头两个不同方向的平均
值，由此得出该接头损耗的测量结果。对于B1类光纤，A级平均
图4 OTDR曲线与MFD变化的关系 值≤0.06dB，最大值≤0.12dB。

三、结束语

本文对G.657光纤和G.652光纤之间接续存在的问题和现
象进行了解释，最终的接续损耗数据必须依靠OTDR、光源、光
功率计的测试结果，也算是一个抛砖引玉，希望工程技术人员
多多关注光纤入户工程建设，确保工程质量，保障工程顺利进
行。

38 网络电信 二零一六年六月