12月29日，安捷伦科技（中国）有限公司于近日在北京丽亭华苑酒店成功举办了“2012安捷伦LTE技术研讨会”。
LTE技术产品的开发离不开强大的测试技术和工具的支持。作为电子测试测量领域的领导者，安捷伦科技积极面对LTE技术对电子测量测试领域的挑战。依托强大的技术优势和深厚的测量测试开发经验，推出强大的测试平台和测试工具，帮助工程师快速定位、消除在LTE产品在研发、设计、生产制造等环节中的问题。
本次LTE技术研讨会吸引了来自LTE基站至终端研发、生产各个领域的工程师及技术人员等200多人报名参加，安捷伦中国通信产品中心市场总监MarioNarduzzi先生特意为本次大会做了热情洋溢的开幕致辞。TD-Forum技术论坛秘书长时光先生受邀出席了本次会议，并在大会上就TD-LTE产业发展现状和未来预测做了主题演讲。来自创毅视讯的高级市场经理徐征也在大会上分享了新一代LTE终端芯片进展与成果。
在本次会议安捷伦介绍了涵盖基站及终端LTE测试技术在内的12个高技术含量的专题讲座，并从LTEMIMO实时信号产生与多达8端口输入的N7109A矢量信号分析方案、LTE移动终端认证测试系统及E6607系列非信令生产测试、MIPI接口物理层和协议层测量、LTE元器件测试和外场手持系列、安捷伦优势校准服务和现场校准系统等5个角度，向与会者近距离全方位展示了安捷伦针对LTE从研发到生产再到校准服务的全面解决方案。
“很高兴看到安捷伦的测量解决方案能够帮助从事LTE工作的工程师解决面临的各种技术挑战，”安捷伦中国通信产品中心市场总监MarioNarduzzi先生说，“安捷伦多年来一直专注于中国4G标准的研究与测试产品的开发工作，为研发设计、生产制造、认证测试、外场安装维护等方面提供各种精密高效的包括TD-SCDMA和TD-LTE在内的各种无线通信测量解决方案。”
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